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PT-308T

PT-308T

8英寸高精度探针台

高精度定位平台（定位精度±3微米）
可用于多芯同时探测，提升产能效益
可搭配直流针座测试，最多支持4个针座安装
高精度CCD视觉定位系统，自动化程度高
独特的移动面板，可实现异位打点、全扫描、墨点识别、精度自动校正等功能

应用领域

适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试

主要功能

自动打点

MAP图实时显示、存储产品

自动清针功能

晶圆ID自动读取

自动晶圆对准功能

针痕检测功能

自动清针功能

测试应用

大电流测试

射频测试

遮光测试

高压测试

高温测试

坏点重测

特殊应用

无Notch预对准

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适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试

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适用于5～8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计，可以满足1000根探针以下的单芯或多芯测试，配备全自动上下片系统，具有高精度、高刚性，高稳定性的特点。自动对针提高了对准精度，方便客户多针、多芯测试需要

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